实验室设计和流片了一种真随机数发生器ASIC芯片，目前该芯片的测试工作已完成。本次组会上，宋政奇介绍了真随机数发生器的原理，相应的ASIC芯片设计，以及流片后的实测结果。测试结果表明：芯片产生的随机数序列可以通过NIST测试，具有较好的真随机性；芯片在随机数读出逻辑部分的设计有待改进。目前的芯片设计只是原型设计验证，证明了在未来下一版实现超高速率真随机数产生器ASIC芯片是完全可能的。