TODT_AFE_V1是RTLab设计实现的基于实验室TODT专利技术的ASIC芯片的第一版，目前该芯片的性能测试工作已经完成。本次组会上，周小雨向大家介绍了芯片的设计参数，以及将芯片用于SiPM阵列读出时的性能测试结果。大家对测试结果逐项讨论，详细分析了各项指标的合理性以及与不同晶体阵列结合时测试性能变化的可能原因。本次研讨会，肯定了第一版芯片设计的成功，明确了下一版芯片的改进设计方向，同时通过和PET探测器结合测试，加深了对PET探测器时间性能的理解。